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Acktar 涂黑气隙
Acktar 涂黑气隙宽带低反射率镀膜从EUV 到 SWIR 吸光度 99%缝隙尺寸低至 25μm x 3mm备有未封装和已封装版通用规格外径 (mm):9.53 ±0.1构造 :Stainless
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比表面积及孔径\隙度分析仪BSD-PM
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Acktar White™箔片薄膜
低日光吸收率、高发射率和出色的被动热管理铝箔基底上的无机哑光涂层无粘合剂或低释气粘合剂可选 通用规格涂层:ACKTAR WHITE™镀膜厚度 (μm):
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卓立汉光宽带隙小型深紫外PL-Mapping(光致发光)光谱仪
仪器简介: 光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL(光致荧光)光谱仪
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Acktar 模切光阻黑标签
(μm):60湿度阻抗:MIL-C-48497A 产品介绍Acktar模切光阻黑标签用于消除无法直接在表面添加镀膜的零件应用中的反射,包括光学包装、激光器件和平台、红外系统或被动热控制。所有镀膜均具有
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Acktar 涂黑针孔
Acktar 涂黑针孔Ø从 EUV 到 SWIR均具备低反射率Ø99% 吸光度的涂黑镀膜Ø从 50 到 1000μm的孔径大小Ø备有封装版和未封装版Acktar 涂黑针孔具有 Acktar
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Acktar Hexa-Black™ C 接口降噪加长套管
Acktar Hexa-Black™ C 接口降噪加长套管Ø采用 Acktar Hexa-Black™ 光吸收技术Ø可减少成像系统中的杂散光和噪声Ø在掠射角的镜面反射率接近零Ø杂散光抑制比高达 8
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上海叶拓粘度计NDJ涂4-5
产品用途是一种便携式粘度计,使用方便、性能稳定,流量杯和流出口由抗腐蚀材料制成。涂4粘度计本仪器适用于测定牛顿型或近似牛顿型流体涂料的运动粘度,也可根据需要做比较测量使用。产品特点1. NDJ-5
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空气隙零级1/4延迟片
空气隙零级1/4延迟片我们推出了针对355nm、532nm、632.8nm、780nm、850nm、1064nm、1550nm激光器发出的光谱波长而设计的且尺寸为12.7mm、25.4mm相位延迟是
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空气隙零级1/2延迟片
空气隙零级1/2延迟片我们推出了针对355nm、532nm、632.8nm、780nm、850nm、1064nm、1550nm激光器发出的光谱波长而设计的且尺寸为12.7mm、25.4mm相位延迟是
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